你對于大顆粒粒徑檢測了解多少

　　大顆粒粒徑檢測是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布來分析顆粒大小的儀器，根據(jù)能譜穩(wěn)定與否分為靜態(tài)光散射粒度儀和動態(tài)光散射激光粒度儀。大顆粒粒徑檢測的缺點(diǎn)是激光性能受溫度影響大，光束的發(fā)散角較大，所以在方向性、單色性和相干性等方面較差。但隨著科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展，目前大顆粒粒徑檢測的的性能已經(jīng)達(dá)到很高的水平，而且光束質(zhì)量也有了很大的提高。

　　大顆粒粒徑檢測動態(tài)范圍寬，重復(fù)性好，操作簡單方便，設(shè)計的探測器陣列，了各種粒度顆粒散射信號的有效接收，從而了對寬分布的樣品測量結(jié)果更為。大顆粒粒徑檢測功能強(qiáng)大，既能測試納米級粉體又能測試微米級粉體，兩種測試功能只需點(diǎn)一下鼠標(biāo)，幾秒鐘就實(shí)現(xiàn)快捷轉(zhuǎn)換。

　　大顆粒粒徑檢測集光學(xué)、電路、樣品池、超聲波分散、攪拌循環(huán)、全自動清洗一體化，電腦控制下自動對中校零。測試時樣品在管道內(nèi)流動的時間短，避免了樣品分散后的分層和重新團(tuán)聚，從而儀器重復(fù)性、穩(wěn)定性好。大顆粒粒徑檢測具有2種進(jìn)樣系統(tǒng)可選，滿足您的各種測試需求。2種進(jìn)樣系統(tǒng)能方便地互換，包括普通型、微量型，用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇不同的數(shù)據(jù)處理方法和分布模型。

　　大顆粒粒徑檢測包含多種分布模式，有自由分布、對數(shù)正態(tài)分布、R-R分布等，可以滿足不同樣品的測試和對比的需要，對試樣進(jìn)行干燥處理，避免試樣結(jié)塊導(dǎo)致檢測結(jié)果有誤。將軟件測試模式切換為干法，打開吸塵器，將吸塵管口于干粉測試臺聯(lián)接，用刷清掃載物臺及載物量筒，并用量勺將試樣均勻置于量筒內(nèi)。